Chroma 3650-CX SoC測試系統(tǒng)的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform)，是一個結(jié)合工程 開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部 份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯 模組以及測試機(jī)臺管理模組。透過親切的圖形 人機(jī)介面的設(shè)計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除 錯工具，包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 軟體模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時 的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時的需求。

All-in-One小型化機(jī)臺設(shè)計節(jié)省占地面積
3650-CX將所有的測試儀器模組與機(jī)臺的電源系 統(tǒng)全部整合在單一個測試頭的空間里，并且采用 氣冷式的設(shè)計。透過如此高整合度的小型化設(shè) 計，可以大幅減少機(jī)臺的占地面積，以節(jié)省整體 的測試成本。

周邊設(shè)備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL & GPIB) ， 可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī)， 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

Chroma 3650-CX SoC測試系統(tǒng)的特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 256個 I/O 通道(I/O Channel)
• 16/32 MW vector 記憶體
• 16/32 MW pattern instruction 記憶體
• Multi-site 測試可達(dá) 32 sites
• 16個 DPS 通道
• 8個 PMU 通道
• Per-Pin 時序頻率測試單位
• 大可選購1024M bit x 4 CH scan depth
• 可選購記憶體測試用ALPG
• 高達(dá) 16 high-voltage pins
• 16 個高性能 DPS 通道
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• Windows® XP操作環(huán)境
• C++ 程式語言與圖形人機(jī)介面設(shè)計
• 采用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
• 與周邊設(shè)備相容性高
• All-in-One小型化氣冷式機(jī)臺設(shè)計，節(jié)省占地面積
• Cable Mount / Direct Mount